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LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀

LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀

更新時(shí)間:2025-11-06

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn):LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀,輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形,旨在測(cè)試設(shè)備在晶圓和封裝級(jí)別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器,可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。

LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀的詳細(xì)資料:

ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國(guó)密蘇里州羅拉創(chuàng)立。ESDEMC 開發(fā) ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創(chuàng)新、先進(jìn)、高質(zhì)量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測(cè)試服務(wù)和定制項(xiàng)目。產(chǎn)品包括充電設(shè)備模型 (CDM) 系統(tǒng)、電纜放電事件 (CDE) 系統(tǒng)、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發(fā)射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設(shè)計(jì)。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協(xié)會(huì)的企業(yè)會(huì)員。


LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀輸出波形符合IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE標(biāo)準(zhǔn)中描述的浪涌波形,旨在測(cè)試設(shè)備在晶圓和封裝級(jí)別上的浪涌抗擾性。通過脈沖發(fā)生器,可以輕松確定浪涌應(yīng)力下的EOS故障閾值。


脈沖源設(shè)計(jì)和脈沖源傳輸方法確保波形性能直接作用于被測(cè)試設(shè)備,而不是在發(fā)生器輸出端。可以捕捉并分析每個(gè)浪涌事件的電流波形,自動(dòng)化的脈沖故障測(cè)量設(shè)置也可幫助完成此過程。此外,還可以捕捉電壓波形,并用于確定保護(hù)結(jié)構(gòu)的開通電平。這些電壓波形還可以作為故障判定的依據(jù),因?yàn)槁╇娞匦栽诿}沖事件后會(huì)發(fā)生變化。


產(chǎn)品特點(diǎn)

● 波形從最小值到最大值干凈且線性


● 隔離的浪涌脈沖電路


● 軟件控制自動(dòng)測(cè)量


● 自動(dòng)故障檢測(cè),包括直流點(diǎn)檢和靜態(tài)IV測(cè)試


產(chǎn)品應(yīng)用

● 測(cè)試電源、驅(qū)動(dòng)PCB、通信系統(tǒng)、LCD顯示面板的浪涌脈沖抗干擾性,符合8/20μs和10/1000μs規(guī)范


● 測(cè)試晶圓、封裝和PCB的浪涌/靜電放電(ESD)抗干擾性


LVS-500系列低壓浪涌測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格


參數(shù)LVS-500LVS-1000LVS-1500LVS-2000LVS-500LVS-1000LVS-1500LVS-2000單位

-8/20-10/1000
輸出電壓@開路負(fù)載1-5001-10001-15001-20001-5001-10001-15001-2000V
輸出電流@開路負(fù)載0.5-2500.5-5000.5-7500.5-10000.1-500.1-1000.1-1500.1-200A
輸出精度± 5 % ± 0.1 V
輸出電阻2 ± 5%
10 ± 10%Ω
短路電流前沿時(shí)間
8 ± 30%10 (+0, -5)μs
短路電流半峰值時(shí)間20 ± 20%1000 ± 20%μs
開路電壓前沿時(shí)間1.2 ± 30%10 (+0, -5)μs
開路電壓分峰值時(shí)間
50 ± 20%1000 (+1000, -0)μs
尺寸347 X 300 X 145
重量5681056810kg








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